Vor kurzem durften wir Jack Xu von WHEC in unserem Büro begrüßen und uns mit ihm über die Contact-Image-Sensor-Technologie (CIS) und deren Potenzial für die industrielle Oberflächenprüfung austauschen.
Wir sind stets auf der Suche nach verschiedenen Bildgebungstechnologien, um für jede Anwendung die richtige Lösung zu finden. Ein Beispiel dafür ist unsere PS Line Scan Solution in der CIS-Konfiguration, bei der wir die CIS-Technologie mit unserem PS Line Light kombinieren, um die Vorteile von Photometric Stereo ein kompaktes Prüfsystem zu integrieren. Dies ist ein interessanter Ansatz für Anwendungen, bei denen Einbauraum, Bildqualität und zuverlässige Erkennung von Oberflächenfehlern entscheidende Faktoren sind.
Wir haben die technischen Diskussionen über mögliche Anwendungen und zukünftige Entwicklungen sehr genossen. Vielen Dank für den Besuch – wir freuen uns darauf, in Kontakt zu bleiben und gemeinsam neue Möglichkeiten zu erkunden!