Die PS Line Scan Solution kombiniert die Vorteile der Photometric-Stereo-Technologie für die Oberflächeninspektion mit den hohen Geschwindigkeiten von Zeilenkameras. Durch die Nutzung des FPGAs des Framegrabbers werden die Photometric Stereo Bilder ohne zusätzliche CPU-Last berechnet (bis zu 3,6 GB/s).
Die modulare und skalierbare Systemarchitektur ermöglicht die einfache Integration mehrerer synchronisierter Kameras oder Contact Image Sensoren. Zusätzlich werden weitere Beleuchtungskonfigurationen wie Dunkelfeld-, Durchlicht- oder multispektrale Setups unterstützt.
Das Herzstück des Systems ist die optimierte PS Line Light, die für hohe Helligkeiten, enge Abstrahlwinkel und steile Beleuchtungswinkel entwickelt wurde. Dadurch lassen sich selbst feinste topografische und texturale Details zuverlässig sichtbar machen – auch auf dunklen oder anspruchsvollen Oberflächen.
Die vollständige PS Line Scan Solution bietet flexible Systemkonfigurationen mit variablen Inspektionslängen, anpassbaren Kamerasetups sowie frei wählbaren Beleuchtungswellenlängen und umfasst:
Eine oder mehrere Hochgeschwindigkeits-Zeilenkameras mit optimal abgestimmten Objektiven für das jeweilige Sichtfeld
MSTVisions vollständig integrierte PS Line Light (MST-PSL) mit leistungsstarker Multikanal-Beleuchtung und integrierten LED-Treibern
Einen VisualApplets Framegrabber mit MSTVisions MultiChannel- und PS Line Scan-Bibliotheken zur FPGA-basierten Bildaufnahme und -verarbeitung
Umfassendes Zubehör für eine einfache und nahtlose mechanische, elektrische und softwareseitige Integration
Bei Zeilenkamera-Anwendungen erfolgt die Bildaufnahme während einer Relativbewegung zwischen Objekt und Kamera. Die MultiChannel-Funktion ermöglicht die aufeinanderfolgende Aufnahme von Bildern unter unterschiedlichen Beleuchtungsbedingungen mit einem minimalen physikalischen Versatz von weniger als einem Pixel. Trotz dieser äußerst geringen Verschiebung können Artefakte im Krümmungsbild auftreten, insbesondere in Bereichen mit starkem Kontrast im Albedo-Bild. Ein speziell entwickelter, im FPGA implementierter Algorithmus reduziert diese Artefakte deutlich und gewährleistet gleichzeitig eine hohe Verarbeitungsleistung.
Die Oberflächenqualität ist bei dekorativen und natürlichen Materialien von entscheidender Bedeutung. Die PS Line Scan Solution ermöglicht die getrennte Inspektion von Textur und Topografie, um Defekte wie Dellen, Prägefehler, Kratzer oder Oberflächenunregelmäßigkeiten selbst bei hohen Verarbeitungsgeschwindigkeiten zuverlässig zu erkennen und so ein gleichbleibend hochwertiges Erscheinungsbild sicherzustellen.
In der E-Mobility-Fertigung kann bereits die kleinste topografische Abweichung die Funktionalität beeinträchtigen. Die PS Line Scan Solution ermöglicht eine hochauflösende Inline-Inspektion von Bipolarplatten während der Bewegung und macht feinste Defekte sichtbar, die Dichtheit, Leitfähigkeit oder strukturelle Integrität beeinflussen können.
Die PS Line Scan Solution prüft Oberflächen- und Konturdefekte während Stanz- oder Umformprozessen – sowohl bei taktenden als auch bei kontinuierlichen Bewegungsabläufen. Sie lässt sich einfach in Hochgeschwindigkeitsanlagen integrieren und unterstützt optional eine beidseitige Inspektion, wodurch sie sich ideal für elektronische oder präzisionsgefertigte Metallkomponenten eignet.
Bei Blisterverpackungen, Siegel- und Deckfolien sowie bedruckten Kartonagen erkennt die PS Line Scan Solution feinste topografische und oberflächenbezogene Defekte wie Falten, Prägefehler oder Delaminationen. Die berührungslose Inspektion gewährleistet eine gleichbleibend hohe Verpackungsqualität – ein entscheidender Faktor für regulatorische Anforderungen und Markenschutz.